3-дюймова підкладка SiC Виробництво Dia76.2mm 4H-N
Основні характеристики 3-дюймових пластин карбіду кремнію MOSFET такі:
Карбід кремнію (SiC) — це широкозонний напівпровідниковий матеріал, який характеризується високою теплопровідністю, високою рухливістю електронів і високою напруженістю електричного поля пробою. Завдяки цим властивостям кремнієві карбідні пластини чудово підходять для роботи з високою потужністю, високою частотою та високою температурою. Особливо в політипі 4H-SiC його кристалічна структура забезпечує відмінні електронні характеристики, що робить його найкращим матеріалом для силових електронних пристроїв.
3-дюймова пластина з карбіду кремнію 4H-N – це пластина з добавкою азоту з провідністю N-типу. Цей метод легування дає пластині вищу концентрацію електронів, тим самим покращуючи провідність пристрою. Розмір пластини 3 дюйми (діаметр 76,2 мм) є загальновживаним розміром у напівпровідниковій промисловості, придатним для різних виробничих процесів.
3-дюймову пластину з карбіду кремнію 4H-N виготовляють методом фізичного переносу парів (PVT). Цей процес передбачає перетворення порошку SiC на монокристали за високих температур, що забезпечує кристалічну якість і однорідність пластини. Крім того, товщина пластини зазвичай становить близько 0,35 мм, а її поверхня піддається двосторонньому поліруванню для досягнення надзвичайно високого рівня площинності та гладкості, що має вирішальне значення для подальших процесів виробництва напівпровідників.
Діапазон застосування 3-дюймової пластини з карбіду кремнію 4H-N широкий, включаючи електронні пристрої високої потужності, датчики високої температури, радіочастотні пристрої та оптоелектронні пристрої. Його чудова продуктивність і надійність дозволяють цим пристроям працювати стабільно в екстремальних умовах, задовольняючи попит на високоефективні напівпровідникові матеріали в сучасній електронній промисловості.
Ми можемо надати підкладку 4H-N 3 дюйми SiC, різні сорти пластин підкладки. Ми також можемо організувати налаштування відповідно до ваших потреб. Вітаємо запит!